1、自由曲面反射鏡及其它光學(xué)元件表面的光學(xué)非接觸、全場3D輪廓測量。
2、測量過程簡單,無需精密調(diào)整樣品姿態(tài), 單件測量時(shí)間一般小于 20 秒;檢測效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于三坐標(biāo)和 UA3P 等接觸式三維檢測設(shè)備,適合用于自由曲面光學(xué)面的全檢。
3、基于CAD模型或者方程式的三維面型數(shù)據(jù)比對分析,可自動(dòng)完成面型質(zhì)量評價(jià),輸出信息完善:
包含完善的3D誤差分布圖、上下公差比例計(jì)算、PV 和 RMS 值、3D 顯示、曲率分析、斜率誤差以及凹凸分析。
4、完備的擬合分析:xy 多項(xiàng)式、Zernike、Legendre 擬合分析,可用于自由曲面零件的三維逆向分析以及注塑缺陷工藝分析。
5、豐富的 2D、3D 表面瑕疵分析功能:可以分析麻點(diǎn),劃痕,刀紋,流紋以及塌邊等常見的注塑缺陷??梢蕴峁?a href="/products/microscope/2171-0-0-0-0" title="暗場" target="_blank" >暗場缺陷分析??梢愿鶕?jù)用戶需求開發(fā)統(tǒng)計(jì)功能。
6、豐富的線性尺寸分析功能,可以分析整體線性尺寸和缺陷尺寸,并輸出報(bào)告。
7、單點(diǎn)車刀痕紋理誤差的三維定量分析,用于零件和模具表面彩虹紋和刀紋三維定量分析單點(diǎn)車反射鏡面型誤差測量結(jié)果(和激光干涉儀比較)PV=0.45um
8、完善的測量輸出功能(測量原始數(shù)據(jù)輸出、可訂制化檢測報(bào)告輸出以及 Log 統(tǒng)計(jì)文件輸出),可根據(jù)用戶需求訂制輸出報(bào)告的內(nèi)容格式。
技術(shù)指標(biāo)
1、光學(xué)自由曲面三維面型檢測系統(tǒng)(標(biāo)準(zhǔn)模式)
標(biāo)準(zhǔn)模塊
特點(diǎn):
2、高分辨測量模式,鏡面三維檢測
標(biāo)準(zhǔn)模塊
特點(diǎn):高橫向分辨率、較高陡度、適合較大陡度和凸面測量
高分辨測量模式技術(shù)參數(shù):
3、結(jié)構(gòu)光測量模式,漫反射表面三維檢測
可選購,集成于模塊 1 中
特點(diǎn):鏡面噴粉測量、漫反射表面檢測、夾具檢測
結(jié)構(gòu)光漫射表面三維測量技術(shù)參數(shù):
4、在線型測量模式