本產(chǎn)品適用被檢物體在培養(yǎng)皿(或培養(yǎng)瓶)中的生物學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中的組織培養(yǎng)、細(xì)胞離體培養(yǎng)、浮游生物、環(huán)境保護(hù)、食品檢驗(yàn)及流質(zhì)沉淀物等顯微觀察和研究。
詳細(xì)三目倒置編碼金相顯微鏡VM2400I配置長距明場平場消色差物鏡與大視野平場目鏡,照明系統(tǒng)采用LED照明方式,視場照明均勻。主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織,或用于觀察材料表面的某些特性,如:劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等,簡單便于理解操作。應(yīng)用在工廠、實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科學(xué)領(lǐng)域,是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)研究的理想儀器。可觀察5公斤以下不規(guī)則樣品或者大體積高度樣品,可選配數(shù)碼相機(jī)成像、可與金相分析軟件配合根據(jù)試樣特性國標(biāo)出金相分析報(bào)告。
詳細(xì)HVS-16V電動(dòng)連續(xù)變倍自動(dòng)對焦數(shù)碼顯微鏡采用Sony IMX415 1/2.8” 4K Starvis CMOS,信噪比高。高效、靈活的顯微觀察工具,其自動(dòng)化程度高,能夠大大提高觀察和分析的效率。具有自動(dòng)對焦、大視野范圍、傳輸率快特點(diǎn),測量、拍照、錄像等圖片處理功能。適合應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)林地質(zhì),電子精密機(jī)械等工業(yè)行業(yè)和部門,特別適合于LED、PCB檢驗(yàn)、沖壓電鍍檢驗(yàn)、電子元件檢驗(yàn)等等,用于生物解剖及昆蟲的宏觀觀察。
詳細(xì)TZ650E視頻連續(xù)變倍同軸光顯微鏡采用平行光路光學(xué)系統(tǒng),使用點(diǎn)光源以確保光線的平行性,平行光路配合無限遠(yuǎn)物鏡有助于獲得清晰的顯微圖像。搭配索尼芯片1200萬像素相機(jī),USB3.0接電腦輸出可測量拍照錄像等圖片分析(可以根據(jù)需求選配HDMI、USB、WiFi、網(wǎng)口輸出的相機(jī))。設(shè)備小巧便捷可以根據(jù)現(xiàn)場要求定制不同的觀測工作方式,適用于材料科學(xué)金屬和合金分析、聚合物研究;電子行業(yè)半導(dǎo)體制造、光學(xué)元件檢測;教育與研究。
詳細(xì)VMS303CD是一種chao長工作距離(80~230mm)、圖像清晰銳利的立體顯微鏡。 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備為wf10倍目鏡和1倍物鏡。 左目鏡瞳距調(diào)整55~75mm。 該顯微鏡的底座是可調(diào)節(jié)的磁性底座和靈活的手臂,為360°方向。
詳細(xì)ATE-25DM高清2D/3D視頻電子顯微鏡基于無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),0.6-5.0X 連續(xù)變倍主體,0.5X C接口,工作距離86mm。與11.6寸一體式顯示屏連接,高清1920*1080分辨率,操作方便可拍照錄像測量,存儲(chǔ)在U盤,無需電腦??蓮V泛應(yīng)用于微電子、精密電子、精密五金件、深孔壁、生命科學(xué)、動(dòng)植物形態(tài)、刑偵鑒定等等行業(yè)。
詳細(xì)研究級(jí)電動(dòng)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器,物理按鈕和軟件雙控,進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié),12寸大工作平臺(tái)特別是針對線路板切片測量,晶圓檢測,金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測,本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)研究級(jí)12寸大平臺(tái)半導(dǎo)體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應(yīng)用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復(fù)消技術(shù),集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進(jìn)口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對線路板切片測量,晶圓檢測,金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進(jìn)行分析檢測,本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。同時(shí)可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)HVS-500P視頻一體數(shù)碼顯微鏡無需電腦,獨(dú)立操作,上手簡單,易于維護(hù)符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)。內(nèi)置測量系統(tǒng),在觀測樣品過程中,可對目標(biāo)進(jìn)行二維尺寸測量和標(biāo)注,測量數(shù)據(jù)可隨圖像一起保存,可拍照錄像,可設(shè)置畫面實(shí)時(shí)顯示比例尺。用于電子元器件、醫(yī)療行業(yè)、農(nóng)業(yè)、塑料和橡膠行業(yè)、精密工程航空和汽車行業(yè)、生物研究學(xué)等等的表面觀察。
詳細(xì)電動(dòng)研究級(jí)材料檢測顯微鏡CM80BD-AF采用全新半復(fù)消技術(shù),集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。機(jī)器采用電動(dòng)轉(zhuǎn)換器,物理按鈕和軟件雙控,進(jìn)行遠(yuǎn)位數(shù)調(diào)節(jié)。8寸大平臺(tái)特別是針對大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查,線路板切片測量,晶圓檢測同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料,高分子材料的分析檢測,本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板,可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下,方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上,插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)研究級(jí)材料檢測顯微鏡CM60BD采用全新半復(fù)消技術(shù),集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,或根據(jù)實(shí)際應(yīng)用進(jìn)行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。配有6寸大平臺(tái)特別是針對大尺寸的半導(dǎo)體FPD檢查,線路板切片測量,晶圓檢測同時(shí)該產(chǎn)品還適用于金相材料,高分子材料的分析檢測,本機(jī)配備了偏振系統(tǒng)包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板,可做偏光檢測,在半導(dǎo)體和PCB檢測中,可消除雜光,細(xì)節(jié)更加清晰。360度旋轉(zhuǎn)式檢偏器可以在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下,方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài).同時(shí)可以在在正交偏光的基礎(chǔ)上,插入DlC棱鏡,可進(jìn)行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術(shù)可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導(dǎo)電粒子。
詳細(xì)HVS-18V自動(dòng)對焦大視野數(shù)碼顯微鏡具有自動(dòng)對焦、大視野范圍、傳輸率快特點(diǎn),同時(shí)可以測量、拍照、錄像等圖片處理功能。適合應(yīng)用于醫(yī)療衛(wèi)生,農(nóng)林地質(zhì),電子精密機(jī)械等行業(yè)和部門,特別適合于LED、PCB檢驗(yàn)、沖壓電鍍檢驗(yàn)、電子元件檢驗(yàn)等等。同時(shí)也適用于生物解剖及昆蟲的宏觀觀察。語言模式,有簡體中文、英文、繁體、日文可供選擇
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